確定所施加磁場強度的方法
a.由周向磁化規(guī)范、縱向磁化規(guī)范給出的公式計算所需施加的磁化電流值及安匝數(shù)。
b.用標(biāo)準試片估計法估計所施加的磁場強度的大小。
c.由毫特斯拉計測定所施加的磁場強度的大小。
2.周向磁化規(guī)范
a.直接通電法、正中心導(dǎo)體法、偏置中心導(dǎo)體法周向磁化規(guī)范推薦如下: ⅰ連續(xù)法  I=12-20D(檢驗高磁導(dǎo)率制件的開口性缺陷)  I=20-32D(檢驗高磁導(dǎo)率制件的夾雜物等非開口性缺陷及低磁導(dǎo)率制件的開口 性缺陷)  I=30-40D(檢驗較低磁導(dǎo)率制件的夾雜物等非開口性缺陷)  ⅱ剩磁法:  I=30-45D(檢驗矯頑力HC≥1kA/m,剩磁Br≥0.8T材料的開口性缺陷) 式中:Ｉ——磁化電流,Ｄ——制件直徑,mm;對非圓柱形制件D=周長/π;偏置中心導(dǎo)體法制件直徑應(yīng)為中心導(dǎo) 體的直徑加兩倍制件壁厚
b.觸頭法周向磁化:  連續(xù)法:I=3.5-4.5L(板厚δ＜19mm)         I=4.0-5.0L(板厚δ≥19mm) 式中I——磁化電流,ＡＬ——兩觸頭間距,mm(推薦觸頭間距為150-200mm) c.環(huán)形件電纜法磁化規(guī)范  按2.4.2a計算,但要求用安匝數(shù)IN代替I(N為穿過制件空腔的軟電纜匝數(shù)